| 來自 | 產品編號 | 分類 | 包裝方式 | 廠商 | 封裝 | 描述 | 數據表 | 聯繫 |
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CD54ACT280F3A | 奇偶校驗發生器和校驗器 | 管件 | TI | 14-CDIP | 9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATOR/ | ||
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CY54FCT480BTLMB | 奇偶校驗發生器和校驗器 | 管件 | TI | 28-LCCC(11.43x11.43) | DUAL 8-BIT PARITY GENERATOR/CHEC | ||
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CD54HC280F3A | 奇偶校驗發生器和校驗器 | 管件 | TI | 14-CDIP | HIGH SPEED CMOS LOGIC 9-BIT ODD/ | ||
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SN74F280BNS | 奇偶校驗發生器和校驗器 | 管件 | TI | 14-SO | PROTOTYPE | ||
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CD54AC280F3A | 奇偶校驗發生器和校驗器 | 管件 | TI | 14-CDIP | 9-BIT ODD/EVEN PARITY GENERATOR/ | ||
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74HCT280N,652 | 奇偶校驗發生器和校驗器 | 管件 | NXP | 14-DIP | IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14DIP | ||
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74HCT280DB,118 | 奇偶校驗發生器和校驗器 | 卷带(TR) | Nexperia | 14-SSOP | IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SSOP | ||
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74HC280N,652 | 奇偶校驗發生器和校驗器 | 管件 | NXP | 14-DIP | IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14DIP | ||
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N74F280BN,602 | 奇偶校驗發生器和校驗器 | 管件 | NXP | 14-DIP | IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14DIP | ||
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N74F280BD,602 | 奇偶校驗發生器和校驗器 | 管件 | NXP | 14-SO | IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SO | ||
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74F280SJX | 奇偶校驗發生器和校驗器 | 卷带(TR) | onsemi | 14-SOP | IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOP | ||
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DM74AS286N | 奇偶校驗發生器和校驗器 | 管件 | onsemi | 14-MDIP | IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14DIP | ||
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SN74AS286DR | 奇偶校驗發生器和校驗器 | 卷带(TR) | TI | 14-SOIC | IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC | ||
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M74HC280RM13TR | 奇偶校驗發生器和校驗器 | 卷带(TR) | STM | 14-SO | IC PARITY GENERATOR 9-BIT 14SO | ||
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SN74LS280DRE4 | 奇偶校驗發生器和校驗器 | 卷带(TR) | TI | 14-SOIC | IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC | ||
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CD74AC280M96G4 | 奇偶校驗發生器和校驗器 | 卷带(TR) | TI | 14-SOIC | IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOIC | ||
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74HCT280D-Q100J | 奇偶校驗發生器和校驗器 | 卷带(TR) | Nexperia | - | 74HCT280D-Q100/SOT108/SO14 | ||
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74HC280D-Q100J | 奇偶校驗發生器和校驗器 | 卷带(TR) | Nexperia | - | 74HC280D-Q100/SOT108/SO14 | ||
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74AC280SJX | 奇偶校驗發生器和校驗器 | 卷带(TR) | onsemi | 14-SOP | IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SOP | ||
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74ACT280MTR | 奇偶校驗發生器和校驗器 | 卷带(TR) | STM | 14-SO | IC PARITY GEN/CHKER 9-BIT 14SO |